TT230氧化膜测厚仪　　　　

TT230氧化膜测厚仪是一种超小型的测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。TT230氧化膜测厚仪　体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

TT230氧化膜测厚仪主要功能

    可进行零点校准及二点校准。
　　可对测头进行基本校准。
　　设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV）。可存贮和统计计算15个测量值。
　　具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。
　　自动关机功能。
　　删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。
　　操作过程有蜂鸣声提示。
　　有欠压指示功能。
　　有错误提示功能。

TT230氧化膜测厚仪主要技术指标　

    测量原理：涡流法
　　测量范围：1～1250μm
　　测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准）
　　　　　　　±[(1～3)%H+1.5] μm（二点校准）

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