美国泛美35/35DL超声波高精度测厚仪

35系列

Panametrics系列35超声波高精度测厚仪在难以或是不可能进入测试材料另一侧的应用场合能提供使用简单并且经济的解决方案。这些结实耐用的袖珍型仪器能对大多数外形和大小不一的材料做稳定、重复的厚度测量。精确的厚度测量值以大数字形式显示在LCD显示屏上，或者在选项A－SCAN模式下伴随着实时波形一起显示。

新功能：

35系列功能

• 对所有的型号，声速和减薄率测量是正常模式
• 从0.0030″到25.0″（0.08mm到635mm）的大厚度测量范围，取决于仪器和材料
• 使用直接接触式、延迟式和水浸式探头
• 具有默认设置和用户自定义设置应用自动－调用功能
• 手持式，重量仅8.5oz.（0.24kg）
• 最小/最大值模式
• 高－低报警
• 英制和公制单位显示（英寸/毫米）
• 多种语言用户界面
• 长的电池寿命

35和35DL

35和35DL用于大多数的应用中

35和35DL可使用的探头范围从2.25到30MHz，这意味着这些多功能型仪器可以解决大部分从极薄到极厚的厚度测量应用。一般而言，高频小直径的探头用于较薄或者曲面工件的测量，并且能提高测量的精度

应用

• 从薄到厚的大多数材料
• 薄至0.08mm（或0.003英寸）的塑料瓶、管、薄板
• 薄至0.10mm（或0.004英寸）的金属容器、钢圈、机械加工零件
• 气缸内孔，涡轮叶片
• 玻璃灯泡，瓶子
• 薄的纤维玻璃，橡胶，陶瓷和复合材料
• 小半径曲面和容器
• 分辨率高达0.001mm或0.0001